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熱傳導係數儀 | TPS 2500S

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Hot Disk offers scientific instruments for measuring thermal transport properties, ranging from the state-of-art TPS 3500 to the budgetary step-in model Hot Disk M1. The instruments can be customized with sensors, measurement modules and accessories according to your wishes, and additional functionality is easy to integrate as interest arises.

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• 特點 / Feature
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1. HotDisk是材料熱傳導性能測試的高性能儀器。
2. 可同時檢測熱導係數(Thermal Conductivity)、熱擴散(Thermal Diffusivity)、熱容(Heat Capacity) 。
3. 從絕緣材料到高散熱材料都可以檢測，是目前全世界應用面及檢測應用面最廣的熱導係數儀
4. 可依客戶需要增加各種測試模組，進行軟體升級。
5. 目前Hot Disk提供五種測試模組︰Standard測試模組、Thin Film測試模組、Slab測試模組、Anisotropy測試模組以及Specific Heat測試模組。
6. 可對導熱性能極低到極高的各種不同類型的之材料進行測試。

項目 / Item	描述 / Description
量測項目	可同時測得熱導係數(Thermal Conductivity, W/mK),熱擴散(Thermal Diffusivity, mm2/s)與熱容(Specific Heat, J/m3℃),並可由比熱量測模式求得比熱(Specific Heat Capacity, /kg℃)。
量測範圍	0.005 W/mK~1800W/mK
模式	標準模式Standard Method
選配模式	薄膜模式(Thin Film Method) 高熱傳片狀模式(Slab Method) 異方向性模式(Anisotorpic Method) 比熱模式(Cp Method)
量測溫度	-235℃~1000℃
精密度	5%以內
測試時間	1~2分鐘內即可完成測試
樣品尺寸	量測局部特性：Small Sensor－半徑0.49mm 量測整體特性：Large Sensor－半徑60mm
樣品種類	固體，液體，粉末，膏狀，膠狀皆可量測 A.  塊狀樣品 B.  薄膜樣品(20 micrometer~600 micrometer)
儀器特色	A.  採非破壞性樣品測試方法 B.  ​不需輸入比熱(Cp)及密度(D)即可量測熱導係數 C.  不需裁減樣品即可依樣品大小選取適當的感測器 D.  ​可擴充性：可擴充由軟體控溫、，控制高溫爐體及低溫系統的測試溫度及取點​