《產品說明》
穩態熱反射測試法將基於雷射熱反射的技術（TDTR、FDTR）與穩態熱傳導技術結合再一起，進行快速、小尺度的穩態量測。
寬廣的熱傳導係數測試範圍從0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能測試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統提供便利的使用，可選配的FDTR測量模組量測逕向、橫向的熱傳導，以及材料邊界熱阻抗。搭配自動平台最大可以做到100mm的熱傳導分佈圖。
寬廣的熱傳導係數測試範圍從0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能測試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統提供便利的使用，可選配的FDTR測量模組量測逕向、橫向的熱傳導，以及材料邊界熱阻抗。搭配自動平台最大可以做到100mm的熱傳導分佈圖。
SSTR-F是由維吉尼亞大學ExSiTE 實驗室Professor Patrick Hopkins 開發。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
適用材料 |
固體、液體 |
熱傳導範圍 |
0.05 to 2500W/mk |
熱點尺寸 |
>100um |
溫度範圍 |
80K to 600K |
精確度 |
5% |
再現性 |
2% |
FDTR
熱傳導範圍 |
0.05 to 2500W/mk |
量測方向 |
厚度方向、平面方向 |
薄膜厚度 |
>5nm |